動態(tài)光散射（DLS）和Zeta電位
動態(tài)光散射（DLS），也稱為光子相關(guān)光譜法（PCS），是測量納米顆粒和大分子粒度分布的常用方法，分散在溶液中的微顆粒通常伴隨有布朗運(yùn)動。顆粒小則運(yùn)動快，顆粒大則運(yùn)動慢。當(dāng)激光照射伴有布朗運(yùn)動的顆粒時，散射光強(qiáng)會有對應(yīng)顆粒布朗運(yùn)動的漲落。可通過對其產(chǎn)生的散射光斑進(jìn)行相關(guān)性的計算來獲得顆粒的粒度和粒徑分布。

在大多數(shù)情況下，膠體粒子帶有正電荷或負(fù)電荷。在外電場的作用下，粒子向其極性相反的方向移動。顆粒在移動過程中受激光照射，其散射光的多普勒頻移取決于電泳遷移率。結(jié)合外差系統(tǒng)和光子相關(guān)方法進(jìn)行相關(guān)函數(shù)的傅里葉變換（FFT）以得到多普勒頻譜，從而算出Zeta電位。

NanoPlus是獨(dú)特的利用光子相關(guān)光譜法和電泳光散射技術(shù)測量粒度、Zeta電位和分子量的儀器。該儀器結(jié)構(gòu)緊湊、易于使用、分析范圍廣、帶有交互式軟件和多個樣品池，滿足不同用戶的應(yīng)用。

三種型號可選：納米粒度儀、Zeta電位儀，納米粒度與Zeta電位儀
測量懸浮液樣品粒度范圍：0.1nm~12.3μm，濃度范圍0.00001%~40%

測量懸浮液樣品Zeta電位范圍：無范圍限制，濃度范圍：0.001%~40%
可配備自動滴定儀以及多種樣品池

ASTM: E2490
ISO: 13321, 22412, 13099-2

空氣滲透法
控制空氣以一定的流速流過顆粒床層，SAS利用兩個壓力傳感器測量空氣通過床層前后的壓力變化，改變顆粒床層的高度和孔隙率，使用Kozeny-Carman方程計算顆粒的SSA和平均粒徑。

Micromeritics SAS Subsieve AutoSizer?
全自動費(fèi)氏粒徑測試儀

麥克儀器SAS全自動費(fèi)氏粒徑測試儀，是由費(fèi)氏95粒徑儀（FSSS）發(fā)展和升級而來，空氣滲透技術(shù)是公認(rèn)的粉體樣品比表面積（SSA）測試技術(shù)。使用該技術(shù)測定的SSA數(shù)據(jù)已經(jīng)在多個行業(yè)廣泛使用，例如：藥物、金屬涂料、顏料和地質(zhì)等行業(yè)

粒徑范圍：0.2-75μm
設(shè)計生產(chǎn)費(fèi)氏粒度數(shù)據(jù)，保證數(shù)據(jù)一致性
安裝方便，實(shí)時數(shù)據(jù)顯示

ASTM: B330, C721

電阻法

電阻法檢測通過感應(yīng)區(qū)的顆粒，該感應(yīng)區(qū)是一個連通兩邊電解質(zhì)溶液的短毛細(xì)管，兩個電極分別插在兩邊的電解質(zhì)溶液中。當(dāng)顆粒通過感應(yīng)區(qū)時，它會取代相同體積的導(dǎo)電溶液，從而改變通過毛細(xì)管的電阻。由此產(chǎn)生的電脈沖信號被傳感器檢測，

脈沖的幅度與顆粒的體積成正比。儀器測量電脈沖的數(shù)量以及每個脈沖的振幅。通過這些數(shù)據(jù)，即可以得到顆粒的數(shù)量與體積。對于密度均勻的顆粒，體積與質(zhì)量成正比。雖然直接測量的是每個顆粒的體積，但是粒徑報告也可以是等效球直徑。

Elzone II ?
電阻法顆粒計數(shù)與粒度分析儀

ElzoneⅡ顆粒計數(shù)與粒度分析儀采用電阻法這種有效的顆粒粒度表征技術(shù)，適用于同時分析具有不同光學(xué)性質(zhì)、密度、顏色和形狀的顆粒樣品可迅速、精確地檢測精細(xì)顆粒材料的尺寸、數(shù)目、濃度以及質(zhì)量。ElzoneⅡ被廣泛應(yīng)用于工業(yè)、生物、地質(zhì)等粒度大于0.4μm的顆粒，具有極高的準(zhǔn)確度和分辨率，操作非常簡便。

測量范圍：0.4到266μm，有機(jī)或者無機(jī)材料
可使用不同的導(dǎo)電液，不需要輸入液體性質(zhì)參數(shù)
無需事先獲得材料性質(zhì)參數(shù)（密度、折射率等）
全自動操作：啟動、運(yùn)行、關(guān)閉、檢測并清除障礙物、沖洗和校準(zhǔn)
CCD照相機(jī)可實(shí)時視頻顯示光圈

ASTM: C690, D4438, F577
ISO: 13319

X光沉降
沉降法是從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降，即可以運(yùn)用Stokes方程來計算顆粒的等效球直徑。在這種情況

下，報告中的粒徑就是與測試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑。

SediGraph III Plus ?
全自動X光沉降粒度分析儀

結(jié)合成熟的SediGraph分析技術(shù)，SediGraph III通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度，無需模型，儀器有很好的重復(fù)性、精確性和重現(xiàn)性。

粒度范圍：0.1到300μm
高精度X射線管，7年保修
可選的MasterTech 052自動進(jìn)樣器進(jìn)行18個樣品的自動分析

ASTM: B761, C958, C110
ISO: 13317-3

動態(tài)圖像法

多年來，粒度分析儀都是假設(shè)測量粒子是球型而得到分析結(jié)果。然而，在許多應(yīng)用中，粒子的形狀可影響生產(chǎn)過程中的性能和流動性。因此，相對于單獨(dú)使用粒度分析儀而言，原材料的粒形信息可使生產(chǎn)商更好地控制工藝。使用粒形參數(shù)，如平整

度、圓度和長寬比控制生產(chǎn)工藝可更好地預(yù)測生產(chǎn)結(jié)果，譬如生產(chǎn)過程中粉末的流動性、磨料的有效性或一種藥品的活性組分。與靜態(tài)圖像分析儀相比，動態(tài)圖像分析儀單次測試的樣品量增加，減少在取樣方面的誤差；單位時間內(nèi)測量的顆粒數(shù)量

多，增加測試結(jié)果的統(tǒng)計代表性。

Particle Insight?
全自動粒形分析儀

Particle Insight是一款現(xiàn)代化的動態(tài)圖像分析儀，對于那些不僅由于顆粒大小，并且也必須由顆粒形狀來確定原材料性能的應(yīng)用，Particle Insight是理想的工具。

三種型號-1到150μm, 3到300μm, 10到800μm
具有獨(dú)特的光學(xué)、高幀頻、高分辨率的攝像頭，使數(shù)萬的顆粒分析能在幾秒內(nèi)完成。所有形狀參數(shù)的數(shù)據(jù)實(shí)時顯示
30種尺寸/形狀參數(shù)可選，更精確的客戶控制
所有分析過的粒子都有縮略圖，用來篩選與察看指定形狀的顆粒。從單個粒子圖像捕獲參數(shù)，可用來監(jiān)測罕見顆粒
循環(huán)樣品模塊和類似激光衍射系統(tǒng)的光學(xué)系統(tǒng)能夠在徆短的時間內(nèi)統(tǒng)計有效測量。標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)適用于水相和有機(jī)液體
適用于水或有機(jī)溶液

ISO: 13322-2

靜態(tài)光散射
顆粒的大小可以通過散射光來測定，根據(jù)光散射原理，我們通過在實(shí)驗中在不同角度接收到的光強(qiáng)可以用Mie或Fraunhofer理論來計算顆粒的粒徑。

Saturn DigiSizer II ?
全自動高分辨率激光粒度儀

采用航天級的電荷耦合器CCD技術(shù)和超過三百萬個檢測器保證儀器獲得極高的分辨率和完美的數(shù)字化散射圖樣以獲得極高重現(xiàn)性的結(jié)果，即使對于復(fù)雜材料也可以獲得高分辨率的結(jié)果。

CCD檢測器提供40納米到2.5毫米范圍內(nèi)高分辨率檢測
測試速度快，高重現(xiàn)性試驗數(shù)據(jù)
自動進(jìn)樣器可完成自動采樣、稀釋和分散樣品

ASTM: B822, C1070, D4464
ISO: 13320

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粒度分析儀器